Kiểm tra Pin và các Module Pin với công nghệ X-Ray / Chụp cắt lớp vi tính
Thứ 4, Ngày 5 tháng 7 năm 2023 | 11:00 am - 12:00 pm GMT+7
Có khá nhiều công cụ phân tích hình ảnh và đo đạc cần được sử dụng cho việc nghiên cứu và kiểm soát chất lượng pin. Trong hội thảo trực tuyến này, các kiến thức liên quan tới việc đảm bảo an toàn và hiệu suất của pin cho các phương tiện năng lượng mới sẽ được trình bày rõ ràng.
Phiên TRỰC TIẾP này sẽ tập trung vào các kỹ thuật không phá hủy bằng cách sử dụng chụp cắt lớp vi tính để vượt qua các mốc chất lượng của việc lắp ráp pin và các module pin. Chúng tôi sẽ chia sẻ các nghiên cứu điển hình và bản quét X-quang 3D thực tế của pin.
Điểm nổi bật của hội thảo này:
- Chụp cắt lớp vi tính không phá hủy cho đo lường và kiểm tra
- Bao gồm tất cả các quy trình nghiên cứu và sản xuất pin từ nguyên liệu thô tới thành phẩm
- Giải pháp kiểm soát chất lượng cho việc sử dụng trên line hoặc ngoài line sản xuất
- HỎI ĐÁP TRỰC TIẾP
Vui lòng đăng ký tại đây để tham gia
Điền đầy đủ vào biểu mẫu dưới đây
If problems occur with this page, please contact info .metrology .sg @zeiss .com