Giải pháp phân tích độ ô nhiễm sản phẩm trong sản xuất bằng kính hiển vi

10 - 11 giờ, thứ Tư, ngày 31 tháng 1 năm 2024

Về hội thảo:

Ô nhiễm do bụi bẩn là kẻ thù của năng suất, chức năng và tuổi thọ của bất kỳ sản phẩm nào.

Các nhà cung cấp, nhà sản xuất và người dùng cuối cùng có sự yêu cầu về tiêu chuẩn chất lượng ngày càng cao, do đó, phân tích và kiểm tra độ ô nhiễm là nền tảng để loại bỏ sự nhiễm bẩn của các bộ phận được tạo ra trong toàn bộ quá trình sản xuất.

Để đạt được chất lượng tối đa, các nhà sản xuất cần dữ liệu phân tích độ nhiễm bẩn một cách rõ ràng và toàn diện.

Giải pháp phân tích độ ô nhiễm của ZEISS xác định nguyên nhân gốc rễ gây ô nhiễm, cho phép bạn đưa ra quyết định đúng đắn nhanh hơn.

Tìm hiểu thêm trong hội thảo trực tuyến miễn phí của chúng tôi.

Điểm nổi bật của hội thảo này:

  • Đánh giá nguy cơ ô nhiễm tiềm ẩn
  • Xác định nguồn ô nhiễm
  • Thiết lập quy trình phân tích nâng cao
  • Không ngừng nâng cao chất lượng sản phẩm
  • Hỏi & Đáp trực tuyến

Ngôn ngữ: Tiếng Việt

Về diễn giả:

Nguyễn Công Hoàng
Kỹ sư bán hàng kỹ thuật, Giải pháp Kính hiển vi công nghiệp ZEISS, Khu vực Đông Nam Á

Hoàng là Kỹ sư bán hàng kỹ thuật cho Giải pháp kính hiển vi công nghiệp của ZEISS tại Việt Nam. Với nhiều năm kinh nghiệm về cung cấp các giải pháp kiểm soát chất lượng sản phẩm trong quy trình sản xuất, anh chịu trách nhiệm phát triển chiến lược bán hàng cho các dòng sản phẩm Kính hiển vi quang học, Kính hiển vi điện tử quét và các giải pháp phần mềm tới khách hàng tại Việt Nam.

Vui lòng đăng ký tham gia tại đây

Đăng ký tham gia miễn phí

If problems occur with this page, please contact info .metrology .sg @zeiss .com